channele   Newsletter vom 07.06.2018, ISSN 1615-1224
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SENSOR+TEST 2018: Willkommen zum Innovationsdialog

Die Messtechnik-Messe SENSOR+TEST bringt vom 26.-28. Juni 2018 Anbieter, Anwender, Forscher und Entwickler aus allen Bereichen der Sensorik, Mess- und Prüftechnik zusammen. Hier stellen sich die Experten der Branche dem Innovationsdialog mit ihren Kunden, um gemeinsam Lösungen für Mess-, Prüf- und Überwachungsaufgaben aus allen Bereichen der modernen Industrie zu erarbeiten.

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 Inhalt
Anzeige: Integrierte DC/DC-Wandlermodule
Automotive-SiC-Dioden
AEC-Q100-qualifizierte Gate-Treiber
Technische Kommission Medizintechnik beim Fachverband Spectaris neu besetzt
802.11ax, WLAN und Bluetooth Combo-Chip
MOSFETs mit längeren Kriech- und Luftstrecken
Littelfuse: SiC-Schottky-Dioden
Messwandler für Leckstrom-Messungen in Solar-Wechselrichtern
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Webinar: EVIDAS – Mit 2 Klicks vom Messwert in die Cloud

Vom Sensor zur Cloud: Die traditionelle Messkette Sensor-Messverstärker-Software wird erweitert durch neue Möglichkeiten. Lernen Sie in diesem Webinar wie Sie mit EVIDAS, der neuen Messtechnik-Software von HBM…:

  • ... Messdaten schnell und effizient erfassen!
  • ... Daten weltweit über die Cloud teilen!
Termin: Freitag, 15. Juni 2018, 14:00 Uhr – die Teilnahme ist kostenfrei.

>> Weitere Informationen und Anmeldung
Anzeige: Integrierte DC/DC-Wandlermodule
MagI³C Power Module sind einfach einzusetzende DC/DC-Wandler mit integriertem Regler-IC, Induktivität und Kondensatoren. Durch wenige externe Komponenten wird der Platzbedarf deutlich reduziert.  mehr... 
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Warum ist die Signalaktualisierungsrate eines Oszilloskops wichtig?

Aktualisierungsrate - Signale zu triggern und anzuzeigen - wird genauer untersucht. Erfahren Sie, warum dieser Leistungsparameter für die optimale Nutzung Ihres Oszilloskops unerlässlich ist.

>> Jetzt informieren
Automotive-SiC-Dioden
ON Semiconductor erweitert sein Angebot an Siliziumkarbid-Schottky-Dioden um Varianten, die speziell für Automotive-Anwendungen entwickelt wurden. Die AEC-Q101 qualifizierten Dioden sind in gängigen SMD-Gehäusen und in Gehäusen für die ... mehr...  
AEC-Q100-qualifizierte Gate-Treiber
Power Integrations bringt zwei Typen aus seiner Scale-iDriver-Gate-Treiber-IC-Familie mit AEC-Q100 Grade Level 1 Zertifizierung. Die beiden ICs SID1132KQ und SID1182KQ, eignen sich als Treiber für 650-V-, 750-V- und 1200-V-IGBT- und ...  mehr... 
Technische Kommission Medizintechnik beim Fachverband Spectaris neu besetzt
Die Technische Kommission Medizintechnik (TKMT) des Industrieverbandes Spectaris hat auf der Sommersitzung des Gremiums für die Regulatory-Affairs-Koordination des Fachverbands Medizintechnik den langjährigen Vorsitzenden, Dr. Peter Gebhardt von der ... mehr...  
802.11ax, WLAN und Bluetooth Combo-Chip
Marvell stellt die nach eigener Angabe branchenweit erste 802.11ax-Funklösung mit 2x2 plus 2x2 Dual-WiFi, Dual-Mode Bluetooth5/Bluetooth Low Energy und 802.11p für vernetzte Fahrzeuge vor. Der Combo-SoC soll die ...  mehr... 
MOSFETs mit längeren Kriech- und Luftstrecken
Nexperia gibt bekannt, dass zwei seiner MOSFETs im LFPAK56-Gehäuse jetzt in einer Version mit größeren Kriech- und Luftstrecken verfüg­bar sind, die den Anfor­de­rungen des Stan­dards UL2595 für batte­rie­betrie­bene Geräte mit Betriebs­spannungen ... mehr...  
Littelfuse: SiC-Schottky-Dioden
Littelfuse stellt Siliziumkarbid-Schottky-Dioden vor. Dazu gehören fünf Bauelemente der GEN2-Reihe für 1.200 V im TO-247 Gehäuse und drei Dioden in dieser Baureihe für 1.200 V im TO-263 Gehäuse.   mehr... 
Messwandler für Leckstrom-Messungen in Solar-Wechselrichtern
Das Modell LDSR von LEM misst Leckströme von 300 mA (Nennwert) bis 900 mA (Spitze) bei einer Frequenz von 2 kHz. Sein Haupteinsatzgebiet sind transformatorlose Fotovoltaik-/PV-Wechselrichter, wo er AC- und DC-Fehlerströme misst und die Sicherheit ... mehr...  
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